Takayoshi Shimura: "X-ray diffraction evidence for crystalline SiO_2 in thermal oxide layers on Si substrate" The Physics and Chemistry of Si-SiO_2 Interface 3. 96-1. 456-467 (1996)
Takayoshi Shimura: "X-ray diffraction evidence for crystalline SiO_2 in thermal oxide layers on Si substrate" The Physics and Chemistry of Si-SiO_2 Interface 3. 96-1. 456-467 (1996)
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Takayoshi Shimura：“Si 衬底上热氧化物层中晶体 SiO_2 的 X 射线衍射证据”Si-SiO_2 界面的物理和化学 3. 96-1。
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