Structural relaxation in amorphous SiC studied by in situ transmission electron microscopy
Structural relaxation in amorphous SiC studied by in situ transmission electron microscopy
复制标题
原位透射电子显微镜研究非晶 SiC 的结构弛豫
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and W. J. Weber
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Ishimaru;A. Hirata;M. Naito;I.-T. Bae;Y. Zhang;and W. J. Weber
