Veiling Effects in the Measurement of Poly-disperse Particles with a Photographic Probe
Veiling Effects in the Measurement of Poly-disperse Particles with a Photographic Probe
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用照相探针测量多分散颗粒的遮蔽效应
DOI：
10.1021/acs.iecr.2c03457
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发表时间：
2022-12
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Chao Yang
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Peng Zhao;Haoliang Wang;Jingcai Cheng;Jianfeng Wang;Xiangyang Li;Chao Yang
目前的研究旨在阐明如何使用基于图像的方法的测量结果受到两种类型的总重叠的图像。在保证颗粒均匀悬浮的同时，对探针位置进行优化，证明了以颗粒总含率作为基准数据的合理性。在双分散颗粒体系中，颗粒越大，大颗粒掩盖小颗粒的效果越显著。最大相对误差接近50%。在多分散体系中，测量误差很大程度上取决于被遮盖的颗粒尺寸。颗粒越大，偏差越小。对于1 mm和3 mm的分量，在多种条件下的相对误差超过50%。定性地评价了小颗粒对大颗粒的遮蔽效应。本文的研究结果有助于将基于图像的在线方法推广到实际的多相反应器方法中。
The current study aims to clarify how much the measurement results using the image-based method are affected by two types of total overlaps in the images. By ensuring the homogeneous suspension of particles and simultaneous optimization of the probe location, it has been proven that using the overall holdup of particles as the benchmark data is reasonable. In a bi-disperse particle system, the larger the particles, the more significant the effect of large particles veiling small particles. The maximal relative error nears 50%. In a poly-disperse system, the measurement error heavily depends on the veiled particle size. The larger the particles, the smaller the deviation. For the components of 1 and 3 mm, the relative errors under multiple conditions exceed 50%. The veiling effect of small particles on large particles is qualitatively evaluated. The results of the current study are helpful in promoting the inline image-based method for the actual multiphase reactor method.
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