Measurement of particle in Micro Channel with Electrical Impedance Tomography Technique
Measurement of particle in Micro Channel with Electrical Impedance Tomography Technique
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电阻抗断层扫描技术测量微通道中的颗粒
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J.E.Choi and M.Takei
中科院分区：
文献类型：
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作者：
下原康彰;武居昌宏;伊藤大介;木倉宏成;有冨正憲;A. Kawahara;J.E.Choi and M.Takei
