Integrated circuit production yield assurance based on yield analysis
Integrated circuit production yield assurance based on yield analysis
复制标题
基于良率分析的集成电路生产良率保证
DOI：
10.1016/0026-2692(93)90026-b
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发表时间：
1993
影响因子：
2.2
通讯作者：
N. Stojadinovic
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Z. Stamenkovic;S. Dimitrijev;N. Stojadinovic
