超深亚微米 SOI 总剂量效应泄漏电流模型
超深亚微米 SOI 总剂量效应泄漏电流模型
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DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
陆妩
中科院分区：
文献类型：
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作者：
席善学;郑齐文;崔江维;魏莹;姚帅;何承发;郭旗;陆妩
