T.Tsuji, H.Irihama, T.Mihara, K.Yamanaka: "Imaging and Evaluation of Nano-Scale Crack by Using Ultrasonic Atomic Force Microscopy"Key Engineering Materials. Volume261. 1067 (2004)
T.Tsuji, H.Irihama, T.Mihara, K.Yamanaka: "Imaging and Evaluation of Nano-Scale Crack by Using Ultrasonic Atomic Force Microscopy"Key Engineering Materials. Volume261. 1067 (2004)
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T.Tsuji、H.Irihama、T.Mihara、K.Yamanaka：“利用超声原子力显微镜对纳米级裂纹进行成像和评估”关键工程材料。
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