Quadriwave gradient light inteference microscopy for lable-free thick sample imaging
Quadriwave gradient light inteference microscopy for lable-free thick sample imaging
复制标题
用于无标记厚样品成像的四波梯度光干涉显微镜
DOI：
10.1364/oe.444766
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发表时间：
2021-11
期刊：
影响因子：
3.8
通讯作者：
Wenlong Lu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Jingyi Wang;Wu You;Yuheng Jiao;Xiaojun Liu;Xiangqian Jiang;Wenlong Lu
