In-situ measurement of molecular orientation of the pentacene ultrathin films grown on SiO2 substrates
In-situ measurement of molecular orientation of the pentacene ultrathin films grown on SiO2 substrates
复制标题
SiO2 基底上生长的并五苯超薄膜分子取向的原位测量
DOI：
--
复制
发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
G.Yoshikawa
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
M.Sogo;Y.Sakamoto;M.Aoki;S.Masuda;G.Yoshikawa
