通过降低铜导电丝形成和断裂的随机性来改善Cu/ZnO/Pt三明治结构的电阻开关
通过降低铜导电丝形成和断裂的随机性来改善Cu/ZnO/Pt三明治结构的电阻开关
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DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
Nanotechnology
影响因子：
3.5
通讯作者：
李润伟
李润伟
中科院分区：
材料科学3区
文献类型：
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作者：
诸葛飞;彭姗姗;何聪丽;朱小健;陈欣欣;刘宜伟;李润伟
文献摘要
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