Seiji Kajihara: "Cost-Effective Generation of Minimal Test Sets for Stuck-at Faults in Combinational Logic Circuits" Proceedings of the 30th Design Automation Conference. 102-106 (1993)
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Seiji Kajihara：第 30 届设计自动化会议论文集“经济高效地生成组合逻辑电路中固定故障的最小测试集”。
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