A new Si/CdTe semiconductor Compton camera developed for high-angular resolution

A new Si/CdTe semiconductor Compton camera developed for high-angular resolution
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为高角分辨率而开发的新型 Si/CdTe 半导体康普顿相机

DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
Proσeedings of SPIE, Hard X-Ray and Gamma-Ray Detector Physics IX 6706
影响因子：
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通讯作者：
et. al.
et. al.
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Shin'ichiro Takeda;et. al.

文献摘要

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