Study of I-V hysteresis of tin perovskite thin films using capacitance-voltage measurement coupled with charge modulation spectroscopy
Study of I-V hysteresis of tin perovskite thin films using capacitance-voltage measurement coupled with charge modulation spectroscopy
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使用电容电压测量结合电荷调制光谱研究锡钙钛矿薄膜的 I-V 磁滞现象
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Mitsumasa Iwamoto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Taishi Noma;Dai Taguchi;Takaaki Manaka;Mitsumasa Iwamoto
