Dielectric Breakdown in Silicon Dioxide Films on Silicon I . Measurement and Interpretation
Dielectric Breakdown in Silicon Dioxide Films on Silicon I . Measurement and Interpretation
复制标题
硅上二氧化硅薄膜的介电击穿 I 。
DOI：
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发表时间：
1972
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
D. Ormond
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C. Osburn;D. Ormond
