Tomoko Yoshida: "XANES and XPS Analyses of Silicon Irradiated by Deuterium Ions"Jpn.J.Appl.Phys.. 38. 305-308 (1999)
Tomoko Yoshida: "XANES and XPS Analyses of Silicon Irradiated by Deuterium Ions"Jpn.J.Appl.Phys.. 38. 305-308 (1999)
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Tomoko Yoshida：“氘离子辐照硅的 XANES 和 XPS 分析”Jpn.J.Appl.Phys.. 38. 305-308 (1999)
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