Partial Fluorescence Yield XAFS Measurements in Lower Soft X-Ray Region by Using Large-Caliber Silicon Drift Detector
Partial Fluorescence Yield XAFS Measurements in Lower Soft X-Ray Region by Using Large-Caliber Silicon Drift Detector
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使用大口径硅漂移探测器进行较低软 X 射线区域的部分荧光产率 XAFS 测量
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Ohta
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C. Yogi;H. Ishii;K. Nakairishi;I. Watanabe;K. Kojima;T. Ohta
