Au - Ge Alloys for Wide-Range Low-Temperature On-Chip Thermometry
Au - Ge Alloys for Wide-Range Low-Temperature On-Chip Thermometry
复制标题
用于宽范围低温片上测温的 Au - Ge 合金
DOI：
10.1103/physrevapplied.12.034024
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发表时间：
2019
影响因子：
4.6
通讯作者：
Dann J
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Dann J
