ウルツ鉱型半導体薄膜の極性判定とその制御
ウルツ鉱型半導体薄膜の極性判定とその制御
复制标题
纤锌矿半导体薄膜的极性测定与控制
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小林啓介
中科院分区：
文献类型：
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作者：
大橋直樹;Jesse Williams;安達裕;吉川英樹;山下良之;上田茂典;大垣武;坂口勲;菱田俊一;小林啓介
