Application of Electron-Beam-Induced-Current Technique in Scanning Transmission Electron Microscope to Observation of Si p-n Junction
Application of Electron-Beam-Induced-Current Technique in Scanning Transmission Electron Microscope to Observation of Si p-n Junction
复制标题
扫描透射电子显微镜电子束感应电流技术在Si p-n结观察中的应用
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Tanji
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Tanaka;T.Niwa;T.Tanji
