COMA-FREE ALIGNMENT OF HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPES WITH AID OF OPTICAL DIFFRACTOGRAMS

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DOI:
10.1016/s0304-3991(78)80006-0
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发表时间:
1978-01-01
期刊:
影响因子:
2.2
通讯作者:
HERRMANN, KH
HERRMANN, KH
中科院分区:
工程技术3区
文献类型:
--
作者:
ZEMLIN, F;WEISS, K;HERRMANN, KH

文献摘要

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