Depth profile analysis of thin film by using glow discharge optical emission spectrometry (GD-OES)

Depth profile analysis of thin film by using glow discharge optical emission spectrometry (GD-OES)
复制标题

使用辉光放电发射光谱法 (GD-OES) 进行薄膜深度剖面分析

DOI：
--
复制
发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K. Wagatsuma and S. C. Lee
K. Wagatsuma and S. C. Lee
中科院分区：
--
文献类型：
--
作者：
H. Park;K. Wagatsuma and S. C. Lee

文献摘要

参考文献

被引文献

相似文献

Quantitative analysis of zinc-iron alloy galvanized coatings by glow discharge spectrometry and secondary ion mass spectrometry
辉光放电光谱和二次离子质谱法定量分析锌铁合金镀锌层
DOI： --
发表时间： 1987
期刊： Nippon steel technical report. Overseas
影响因子： --
作者：
Ken;Kenichi. Suzuki;K. Nishizaka;T. Ohtsubo
通讯作者： T. Ohtsubo