T.Matsukawa,et al.: "Single Event Upset Test of Static Random Access Memory Using Single-Ion Microprobe" Japanese Journal of Applied Physics,Part 1. 31. 4025-4028 (1992)
T.Matsukawa,et al.: "Single Event Upset Test of Static Random Access Memory Using Single-Ion Microprobe" Japanese Journal of Applied Physics,Part 1. 31. 4025-4028 (1992)
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T.Matsukawa 等人：“使用单离子微探针对静态随机存取存储器进行单事件翻转测试”日本应用物理学杂志，第 1.31.4025-4028 部分（1992 年）
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