Improvement in measurement accuracy of on-wafer measurements from millimeter-wave to Terahertz frequencies
Improvement in measurement accuracy of on-wafer measurements from millimeter-wave to Terahertz frequencies
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提高从毫米波到太赫兹频率的晶圆上测量的测量精度
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Ryo Sakamaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ryosuke Morita;Fuya Horie;Satoshi Ito;Ryo Sakamaki
