減衰全反射遠紫外スペクトルによるポリエチレンの極表面分析―AFM測定との比較―
減衰全反射遠紫外スペクトルによるポリエチレンの極表面分析―AFM測定との比較―
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使用衰减全反射深紫外光谱法进行聚乙烯的极端表面分析 - 与 AFM 测量的比较 -
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
谷村恵里香・森澤勇介・佐藤春実・苅山直美・東 昇・尾崎幸洋
中科院分区：
文献类型：
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作者：
矢木 康太;加賀 充;山下 浩司;竹田 健一郎;岩谷 素顕;竹内 哲也;上山 智;赤崎 勇;天野 浩;横山大樹,中村成志,奥村次徳;谷村恵里香・森澤勇介・佐藤春実・苅山直美・東 昇・尾崎幸洋
