Customized atomic force microscopy probe by focused-ion-beam-assisted tip transfer.
Customized atomic force microscopy probe by focused-ion-beam-assisted tip transfer.
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通过聚焦离子束辅助尖端转移定制原子力显微镜探针。
DOI：
10.1063/1.4892075
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发表时间：
2014
影响因子：
4
通讯作者：
Butte,ManishJ
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Wang,Andrew;Butte,ManishJ
