E/E/PE安全関連系に対する最適プルーフテスト実施間隔
E/E/PE安全関連系に対する最適プルーフテスト実施間隔
复制标题
E/E/PE 安全相关系统的最佳验证测试间隔
DOI:
--
复制
发表时间:
2021
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
井上 真二,藤原 隆次
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
CHENXUE Wang;SASAKI Tomohiro;HIRAO Atsutoshi;井上 真二,藤原 隆次
登录
查看更多内容
DOI:
10.1007/978-3-642-24658-6_2
发表时间:
2011
期刊:
--
影响因子:
--
作者:
D. Haworth
通讯作者:
D. Haworth
DOI:
10.1109/sies.2013.6601475
发表时间:
2013
期刊:
2013 8th IEEE International Symposium on Industrial Embedded Systems (SIES)
影响因子:
--
作者:
Mehdi Aïchouch;Jean;F. Nouvel
通讯作者:
F. Nouvel
DOI:
10.4271/2007-01-2928
发表时间:
2007
期刊:
--
影响因子:
--
作者:
F. Ataíde
通讯作者:
F. Ataíde
DOI:
10.4271/2013-01-0186
发表时间:
2013
期刊:
--
影响因子:
--
作者:
S. Brewerton;Rolf Schneider
通讯作者:
Rolf Schneider
DOI:
10.4271/2012-01-0031
发表时间:
2012
期刊:
--
影响因子:
--
作者:
S. Brewerton;Natalia Willey;Swapnil Gandhi;Thorsten Rosenthal;C. Stellwag;Matthieu Lemerre
通讯作者:
Matthieu Lemerre