Microwave Systems for Industrial Measurements

Microwave Systems for Industrial Measurements
复制标题

用于工业测量的微波系统

DOI:
10.1016/s0065-2539(08)60180-8
复制
发表时间:
1981
期刊:
Advances in electronics and electron physics
影响因子:
--
通讯作者:
B. Schiek
B. Schiek
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
W. Schilz;B. Schiek

文献摘要

被引文献

相似文献