K.J.Kwak, T.Hosokawa, N.Yamamoto, H.Muramatsu, M.Fujihira: "Near-field fluorescence imaging and simultaneous observation of surface potentials"J.Microscopy. 202. 413-419 (2001)
K.J.Kwak, T.Hosokawa, N.Yamamoto, H.Muramatsu, M.Fujihira: "Near-field fluorescence imaging and simultaneous observation of surface potentials"J.Microscopy. 202. 413-419 (2001)
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K.J.Kwak、T.Hosokawa、N.Yamamoto、H.Muramatsu、M.Fujihira：“近场荧光成像和表面电位的同步观察”J.Microscopy。
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