Subsurface sites of Fe in H/Si(111) studied by scanning tunneling microscopy
Subsurface sites of Fe in H/Si(111) studied by scanning tunneling microscopy
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通过扫描隧道显微镜研究 H/Si(111) 中 Fe 的次表面位点
DOI：
10.1103/physrevb.87.165405
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发表时间：
2013
影响因子：
3.7
通讯作者：
R. Berndt
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Gruyters;T. Pingel;R. Berndt
