Coulomb blockade and hopping conduction in Si quantum dot assembly

Coulomb blockade and hopping conduction in Si quantum dot assembly
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Si量子点组装中的库仑封锁和跳跃传导

DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
Proceedings of International Meeting for future of Electron Devices 2009 Kansai
影响因子：
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通讯作者：
Akira Sugimura
Akira Sugimura
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Mitsuru Inada;Manabu Gibo;Hiroshi Yamamoto;Ikurou Umezu;Tadashi Saitoh;Akira Sugimura

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