微分干渉顕微鏡を用いた顕微鏡下の3次元粒子位置の計測法
微分干渉顕微鏡を用いた顕微鏡下の3次元粒子位置の計測法
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一种使用微分干涉显微镜在显微镜下测量 3D 粒子位置的方法
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
竹原幸生,西田学,仲井孝史
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kosei Yamaguchi;Chiho Kimpara;and Eiichi Nakakita;Kohsei Takehara;竹原幸生,西田学,仲井孝史
