Development of a multifunction prototype for the carrier profiling of semiconductors by scanning frequency comb microscopy
Development of a multifunction prototype for the carrier profiling of semiconductors by scanning frequency comb microscopy
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开发用于通过扫描频率梳显微镜进行半导体载流子分析的多功能原型
DOI：
10.1109/wmed.2017.7916925
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hagmann, Mark J.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hagmann, Mark J.
