Nanoscale elemental analysis and applications using STM combined with brilliant hard X-rays
Nanoscale elemental analysis and applications using STM combined with brilliant hard X-rays
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使用 STM 与明亮的硬 X 射线相结合的纳米级元素分析和应用
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Akira SAITO
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Tsukamoto;Y. Iida and T. Ogino;Akira SAITO
