Ultraviolet nanoimprint lithography using cyclodextrin-based porous template for pattern failure reduction

Ultraviolet nanoimprint lithography using cyclodextrin-based porous template for pattern failure reduction
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使用基于环糊精的多孔模板的紫外纳米压印光刻可减少图案故障

DOI:
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发表时间:
2015
期刊:
Appl. Phys. Lett.
影响因子:
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通讯作者:
Satoshi Takei and Makoto Hanabata
Satoshi Takei and Makoto Hanabata
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
谷口知大;Wayne M Saslow;Satoshi Takei and Makoto Hanabata

文献摘要

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