石田 謙司: "全反射X線回折法によるエピ膜構造・配向のその場計測" Molecular Electronics and Bioelectronics. 9・3. 124-127 (1998)
石田 謙司: "全反射X線回折法によるエピ膜構造・配向のその場計測" Molecular Electronics and Bioelectronics. 9・3. 124-127 (1998)
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Kenji Ishida：“使用全内反射 X 射线衍射进行外延膜结构和取向的原位测量”《分子电子学和生物电子学》9·3（1998 年）。
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