表面電位顕微鏡によるシリコン系クラスレートの仕事関数測定
表面電位顕微鏡によるシリコン系クラスレートの仕事関数測定
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使用表面电势显微镜测量硅基包合物的功函数
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
岡本 和也，阿武 宏明
中科院分区：
文献类型：
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作者：
岡本 和也，阿武 宏明
