マイクロデバイスを用いたX線結晶構造解析の高速化とリガンドスクリーニングへの応用
マイクロデバイスを用いたX線結晶構造解析の高速化とリガンドスクリーニングへの応用
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使用微型器件加速 X 射线晶体结构分析及其在配体筛选中的应用
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
渡慶次学
中科院分区：
文献类型：
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作者：
竹田怜央 ;真栄城正寿 ;伊藤翔 ;上野剛 ;平田邦夫 ;石田晃彦 ;谷博文 ;山本雅貴 ;渡慶次学
