Influence of Extended Defects and Native Impurities on the Electrical Properties of Directionally Solidified Polycrystalline Silicon
Influence of Extended Defects and Native Impurities on the Electrical Properties of Directionally Solidified Polycrystalline Silicon
复制标题
扩展缺陷和原生杂质对定向凝固多晶硅电性能的影响
DOI：
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发表时间：
1988
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Fusi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Pizzini;A. Sandrinelli;M. Beghi;D. Narducci;F. Allegretti;S. Torchio;G. Fabbri;G. Ottaviani;F. Demartin;A. Fusi
