Characterization of swirl defects in floating-zone silicon crystals
Characterization of swirl defects in floating-zone silicon crystals
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浮区硅晶体中涡流缺陷的表征
DOI：
10.1016/0022-0248(75)90210-9
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发表时间：
1975
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. D. Kock
中科院分区：
文献类型：
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作者：
P. Petroff;A. D. Kock
