Total-reflection high-energy positron diffraction (TRHEPD) for structure determination of topmost surface layer
Total-reflection high-energy positron diffraction (TRHEPD) for structure determination of topmost surface layer
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全反射高能正电子衍射 (TRHEPD) 用于确定最表面层的结构
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Fukaya
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Inose;H. Ueda;K. Ema;R. Vadivelu;Y. Igawa;K. Kishino;and T. Ohtsuki;Y. Fukaya
