MEASUREMENT OF SPECTRAL AND POLARIZATION CHARACTERISTICS OF PARAMETRIC X-RAYS IN A SI CRYSTAL
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DOI：
10.1016/0168-583x(89)90417-5
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发表时间：
1989-12-01
影响因子：
1.3
通讯作者：
VOROBYEV, SA
中科院分区：
文献类型：
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作者：
ADISHCHEV, YN;VERZILOV, VA;VOROBYEV, SA
