igh resolution electric field mapping at crystal interfaces by tilt-scan averaged DPC STEM”
igh resolution electric field mapping at crystal interfaces by tilt-scan averaged DPC STEM”
复制标题
通过倾斜扫描平均 DPC STEM 在晶体界面处进行高分辨率电场测绘”
DOI：
--
复制
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Naoya Shibata
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Satoko Toyama;Takehito Seki;Bin Feng;Yuichi Ikuhara;Naoya Shibata
