Observation of Reverse Leakage Current in (001) Halide Vapor Phase Epitaxial (HVPE)-grown b-Gallium Oxide Schottky Barrier Diodes by High Sensitive Emission Microscope
Observation of Reverse Leakage Current in (001) Halide Vapor Phase Epitaxial (HVPE)-grown b-Gallium Oxide Schottky Barrier Diodes by High Sensitive Emission Microscope
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高灵敏发射显微镜观察 (001) 卤化物气相外延 (HVPE) 生长的 b 氧化镓肖特基势垒二极管的反向漏电流
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Makoto Kasu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Sayleap Sdoeung;Kohei Sasaki;Katsumi Kawasaki;Jun Hirabayashi;Akito Kuramata;and Makoto Kasu
