Evaluation of Optical Thickness in He Cascade Arc Plasmas Using VUV Emission Spectroscopy
Evaluation of Optical Thickness in He Cascade Arc Plasmas Using VUV Emission Spectroscopy
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使用 VUV 发射光谱法评估 He 级联电弧等离子体中的光学厚度
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and S. Namba
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Md. Anwarul Islam;H. Kawazome;Y. Sunada;M. Sumino;R. Shigesada;K. Yamasaki;N. Tamura;H. Okuno;and S. Namba
