ウェッジ法を用いたSiCの2次非線形光学定数精密測定
ウェッジ法を用いたSiCの2次非線形光学定数精密測定
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利用楔形法精确测量SiC二阶非线性光学常数
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
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通讯作者：
佐藤弘章
中科院分区：
文献类型：
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作者：
佐藤弘章
