High-throughput Characterization of Local Conductivity of Nd_<0.9>Ca_<0.1>Ba_2Cu_3O_7 Thin Film by the Low-temperature Scanning Microwave Microscope
High-throughput Characterization of Local Conductivity of Nd_<0.9>Ca_<0.1>Ba_2Cu_3O_7 Thin Film by the Low-temperature Scanning Microwave Microscope
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低温扫描微波显微镜高通量表征Nd_<0.9>Ca_<0.1>Ba_2Cu_3O_7薄膜局部电导率
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Hasegawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S Okazaki;N.Okazaki;X.Zhao;H.Sugaya;S.Yaginuma;R.Takahashi;M.Murakami;Y.Matsumoto;T.Chikyow;H.Koinuma;T.Hasegawa
