Slit-scanning microscope with a high NA objective lens for analysis of synaptic function.
Slit-scanning microscope with a high NA objective lens for analysis of synaptic function.
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具有高数值孔径物镜的狭缝扫描显微镜，用于分析突触功能。
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Terakawa S
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Sakurai T;Wakazono Y;Yamamoto S;Terakawa S
