H. Inoue: "Angle-resolved XPS study of thin layers formed on the surface of yttrium coated TiAl by oxidizing under low oxygen presssure." Met. Trans. JIM. (予定).
H. Inoue: "Angle-resolved XPS study of thin layers formed on the surface of yttrium coated TiAl by oxidizing under low oxygen presssure." Met. Trans. JIM. (予定).
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H. Inoue:“通过低氧压力氧化在钇涂层 TiAl 表面形成的薄层的角度分辨 XPS 研究”(计划)。
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10.1016/s0921-5093(96)10261-6
发表时间:
1996
影响因子:
6.4
作者:
M. Videm;N. Ryum
通讯作者:
N. Ryum
DOI:
--
发表时间:
2003
期刊:
影响因子:
--
作者:
C. Barry;M. Steward;N. Z. Lwin;H. Jacobs
通讯作者:
H. Jacobs
影响因子:
2.3
作者:
E. Zasimchuk;Y. Gordienko;R. Gontareva;I. Zasimchuk
通讯作者:
I. Zasimchuk
影响因子:
56.9
作者:
MASUDA, H;FUKUDA, K
通讯作者:
FUKUDA, K
DOI:
10.1073/pnas.082644299
发表时间:
2002-04-16
影响因子:
11.1
作者:
Akutagawa, T;Ohta, T;Becher, J
通讯作者:
Becher, J