S.Ogino,A,Takahashi.: "Secondary charged particle spectrometer based on twodimensional EーTOF analysis" JAERIーM. 90ー025. 268-285 (1990)
S.Ogino,A,Takahashi.: "Secondary charged particle spectrometer based on twodimensional EーTOF analysis" JAERIーM. 90ー025. 268-285 (1990)
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S.Ogino,A,Takahashi.：“基于二维 E-TOF 分析的二次带电粒子光谱仪”JAERI-M 90-025 (1990)。
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