Comparison of Piezoelectric Properties of Pb(Zr_<0.4>, Ti_<0.6>)O_3 Thin Films with Different Microstructures
Comparison of Piezoelectric Properties of Pb(Zr_<0.4>, Ti_<0.6>)O_3 Thin Films with Different Microstructures
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不同微结构Pb(Zr_<0.4>,Ti_<0.6>)O_3薄膜压电性能比较
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Nakajima and T. Iijima
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Okamura;R. Yanase;Y. Fujiuchi;T. Nakajima and T. Iijima
